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Tête de contrôle
Der Prüfkopf ist die zentrale Detektionskomponente eines Scanning Acoustic Microscope (SAM/SAT)-Systems. Er sendet und empfängt hochfrequente Ultraschallsignale und wandelt die empfangenen Echos in elektrische Signale zur weiteren Analyse und Bildverarbeitung um. Frequenzbereich, Empfindlichkeit und Auflösung des Prüfkopfs beeinflussen maßgeblich die Eindringtiefe, Bildqualität und Fehlererkennungsfähigkeit des Systems.
Der Prüfkopf eignet sich für die zerstörungsfreie Prüfung von Halbleiter-Packages, Leistungsmodulen, wassergekühlten Platten, Verbundwerkstoffen sowie weiteren Präzisionsbauteilen. Er ermöglicht die hochgenaue Erkennung von inneren Defekten, Delaminationen, Rissen, Hohlräumen und strukturellen Anomalien.
Champ d'application
Avantages du produit
- Hohe Empfindlichkeit
- Hochauflösende Bildgebung
- Breites Anwendungsspektrum
- Zuverlässiger Betrieb
Caractéristiques techniques
- Hochempfindliche Ultraschalldetektion
- Hochauflösende Bildgebung
- Verschiedene Frequenzbereiche verfügbar
- Geeignet für zerstörungsfreie Prüfung (NDT)
- Lange Lebensdauer
Découpe précise de textiles, de films, de caoutchouc, de matériaux composites, de câbles de pneus et de matériaux similaires.
Conception sur mesure en fonction de la pièce à usiner et des exigences du processus.
Conseils en matière de sélection et de conception en fonction du matériau, de la géométrie et des exigences de processus de la pièce du client.
Augmente ou réduit l'amplitude fournie par le transducteur, optimisant ainsi l'énergie ultrasonique pour différentes pièces et différents procédés.
