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Testina di prova
Der Prüfkopf ist die zentrale Detektionskomponente eines Scanning Acoustic Microscope (SAM/SAT)-Systems. Er sendet und empfängt hochfrequente Ultraschallsignale und wandelt die empfangenen Echos in elektrische Signale zur weiteren Analyse und Bildverarbeitung um. Frequenzbereich, Empfindlichkeit und Auflösung des Prüfkopfs beeinflussen maßgeblich die Eindringtiefe, Bildqualität und Fehlererkennungsfähigkeit des Systems.
Der Prüfkopf eignet sich für die zerstörungsfreie Prüfung von Halbleiter-Packages, Leistungsmodulen, wassergekühlten Platten, Verbundwerkstoffen sowie weiteren Präzisionsbauteilen. Er ermöglicht die hochgenaue Erkennung von inneren Defekten, Delaminationen, Rissen, Hohlräumen und strukturellen Anomalien.
Ambito di applicazione
Vantaggi del prodotto
- Hohe Empfindlichkeit
- Hochauflösende Bildgebung
- Breites Anwendungsspektrum
- Zuverlässiger Betrieb
Dati tecnici
- Hochempfindliche Ultraschalldetektion
- Hochauflösende Bildgebung
- Verschiedene Frequenzbereiche verfügbar
- Geeignet für zerstörungsfreie Prüfung (NDT)
- Lange Lebensdauer
Taglio di precisione di tessuti, pellicole, gomma, materiali compositi, cordicelle per pneumatici e materiali simili.
Progettazione personalizzata in base al pezzo da lavorare e alle esigenze di processo.
Consulenza sulla scelta e sulla progettazione in base al materiale, alla geometria e ai requisiti di processo del componente del cliente.
Aumenta o riduce l'ampiezza fornita dal convertitore, ottimizzando così l'energia ultrasonica per diversi pezzi e processi.
