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Cabezal de prueba
El cabezal de exploración es el componente central de detección de un sistema de microscopio acústico de barrido (SAM/SAT). Emite y recibe señales ultrasónicas de alta frecuencia y convierte los ecos recibidos en señales eléctricas para su posterior análisis y procesamiento de imágenes. El rango de frecuencias, la sensibilidad y la resolución del cabezal de inspección influyen de manera decisiva en la profundidad de penetración, la calidad de la imagen y la capacidad de detección de defectos del sistema.
El cabezal de inspección es adecuado para la inspección no destructiva de paquetes de semiconductores, módulos de potencia, placas refrigeradas por agua, materiales compuestos y otros componentes de precisión. Permite la detección de alta precisión de defectos internos, delaminaciones, grietas, cavidades y anomalías estructurales.
Ámbito de aplicación
Ventajas del producto
- Alta sensibilidad
- Imágenes de alta resolución
- Amplia gama de aplicaciones
- Funcionamiento fiable
Datos técnicos
- Detección por ultrasonidos de alta sensibilidad
- Imágenes de alta resolución
- Hay disponibles diferentes rangos de frecuencia
- Apto para ensayos no destructivos (END)
- Larga vida útil
Corte de precisión de tejidos, láminas, caucho, materiales compuestos, cordón de neumáticos y materiales similares.
Asesoramiento sobre la selección y el diseño en función del material, la geometría y los requisitos del proceso de la pieza del cliente.
Aumenta o reduce la amplitud proporcionada por el convertidor, optimizando así la energía ultrasónica para diferentes piezas y procesos.
