Testina di prova

Categoria
La testina di rilevamento è il componente centrale di un sistema a microscopio acustico a scansione (SAM/SAT). Essa trasmette e riceve segnali ultrasonici ad alta frequenza e converte gli echi ricevuti in segnali elettrici per l'ulteriore analisi ed elaborazione delle immagini. La gamma di frequenza, la sensibilità e la risoluzione della testina di prova influenzano in modo determinante la profondità di penetrazione, la qualità dell’immagine e la capacità di rilevamento dei difetti del sistema. La testina di controllo è adatta al controllo non distruttivo di pacchetti di semiconduttori, moduli di potenza, piastre raffreddate ad acqua, materiali compositi e altri componenti di precisione. Consente il rilevamento altamente preciso di difetti interni, delaminazioni, crepe, cavità e anomalie strutturali.

Ambito di applicazione

Vantaggi del prodotto

  • Elevata sensibilità
Rileva in modo affidabile anche i segnali di eco più deboli e migliora il rilevamento degli errori e la qualità dell'immagine.
  • Immagini ad alta risoluzione
Le diverse gamme di frequenza consentono di ottenere la combinazione ottimale tra alta risoluzione e grande profondità di penetrazione.
  • Ampia gamma di applicazioni
Adatto per pacchetti di semiconduttori, moduli di potenza, piastre raffreddate ad acqua e numerosi altri componenti di precisione.
  • Funzionamento affidabile
I materiali di alta qualità e la lavorazione di precisione garantiscono stabilità a lungo termine e risultati di misurazione riproducibili.

Dati tecnici

  • Rilevamento a ultrasuoni ad alta sensibilità
  • Immagini ad alta risoluzione
  • Sono disponibili diverse gamme di frequenza
  • Adatto per i controlli non distruttivi (NDT)
  • Lunga durata