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Microscopio acustico a scansione semiautomatico (SAM)
Il microscopio a scansione a ultrasuoni semiautomatico amplia il modello standard con un meccanismo automatico di immissione dell’acqua su entrambi i lati. Mantiene la flessibilità del carico e dello scarico manuali e, allo stesso tempo, grazie all’immersione e all’emersione automatizzate, alla scansione automatica e all’elaborazione automatica dei dati, riduce le fasi operative e la dipendenza dalle competenze specialistiche del personale addetto. È adatto alla validazione in fase di ricerca e sviluppo e ai controlli a campione in produzione con tipi di campioni variabili e rappresenta un'estensione dell'automazione economicamente vantaggiosa rispetto al sistema offline standard.
Ambito di applicazione
Controllo del packaging dei semiconduttori per piccole e medie serie con numerose varianti, convalida dei processi di ricerca e sviluppo e controlli a campione della qualità di produzione
Vantaggi del prodotto
- Immersione automatica su entrambi i lati: i bracci su entrambi i lati possono immergersi automaticamente in modo indipendente o coordinato; evita che le mani si bagnino e migliora la maneggevolezza
- Design di immersione obliquo: il supporto entra nel serbatoio dell’acqua con un angolo obliquo, eliminando efficacemente le bolle d’aria e prevenendo interferenze nell’imaging della scansione
- Design a doppia testa/doppia stazione: vengono scansionati contemporaneamente due supporti, il che aumenta notevolmente l’efficienza del controllo rispetto a una stazione singola
- Supporto a cambio rapido: consente il cambio rapido di pezzi diversi ed è adatto a prove miste con un’ampia varietà di varianti
- Scansioni C/T opzionali: la scansione C anteriore e la scansione T posteriore possono essere configurate per l'acquisizione sincrona delle immagini; risultati in modalità doppia in un'unica scansione
- Grado di automazione superiore rispetto al sistema offline standard e investimento iniziale inferiore rispetto a un sistema in linea completamente automatizzato; adatto a esigenze di produzione flessibili
Dati tecnici
| Denominazione del parametro | Valore specificato |
| Dimensioni complessive | 970 mm × 1.725 mm × 1.845 mm |
| Dimensioni del serbatoio dell'acqua | 650 mm × 1.500 mm × 150 mm (personalizzabili in base alle esigenze del cliente) |
| Area di scansione effettiva | circa 400 mm × 320 mm (dimensioni totali) |
| Velocità massima di scansione | 2.000 mm/s |
| Accelerazione sull'asse X | 2 G (regolabile manualmente o automaticamente) |
| Corsa dell'asse Z | 0 ~ 100 mm |
| Configurazione della testina di prova | 1 o 2 sonde C-Scan, compatibili con sonde da 5 a 500 MHz |
Prove di delaminazione su moduli IGBT/SiC, prove di delaminazione su pacchetti di chip semiconduttori, controllo dei difetti di saldatura su piastre di raffreddamento ad acqua, misurazione dello spessore dei diamanti e rilevamento dei difetti interni
