- Produkty
- Półautomatyczny mikroskop akustyczny typu skanującego (SAM)
Półautomatyczny mikroskop akustyczny typu skanującego (SAM)
Półautomatyczny mikroskop skanujący z wykorzystaniem ultradźwięków rozszerza model standardowy o dwustronny mechanizm automatycznego doprowadzania wody. Zachowuje elastyczność ręcznego załadunku i rozładunku, a jednocześnie dzięki automatycznemu zanurzaniu i wynurzaniu, automatycznemu skanowaniu oraz automatycznemu przetwarzaniu danych ogranicza liczbę czynności obsługowych i zmniejsza zależność od specjalistycznej wiedzy personelu obsługującego. Nadaje się do walidacji w ramach badań i rozwoju oraz do kontroli wyrywkowej w produkcji z wykorzystaniem różnych typów próbek i stanowi opłacalne rozszerzenie automatyzacji w porównaniu ze standardowym systemem offline.
Zakres stosowania
Kontrola opakowań półprzewodników w przypadku zróżnicowanych małych i średnich serii, walidacja procesów badawczo-rozwojowych oraz wyrywkowe kontrole jakości produkcji
Zalety produktu
- Obustronny automatyczny wlot wody: ramiona po obu stronach mogą zanurzać się automatycznie niezależnie lub w trybie sprzężonym; zapobiega zamoczeniu rąk i ułatwia obsługę
- Konstrukcja z ukośnym zanurzeniem: nosnik wchodzi ukośnie do zbiornika wody, skutecznie usuwając pęcherzyki powietrza i zapobiegając zakłóceniom w obrazowaniu skanowania
- Konstrukcja typu „doppelkopf” / „doppelstation”: skanowane są jednocześnie dwa elementy nośne, co znacznie zwiększa wydajność kontroli w porównaniu ze stacją pojedynczą
- Uchwyt do szybkiej wymiany: umożliwia szybką wymianę różnych elementów obrabianych i nadaje się do różnorodnych testów mieszanych
- Opcjonalne skany C/T: przedni skan C i tylny skan T można skonfigurować tak, aby obrazy były wyświetlane synchronicznie; wyniki w trybie podwójnym w jednym skanie
- Wyższy stopień automatyzacji niż w przypadku standardowego systemu offline oraz niższa inwestycja początkowa niż w przypadku w pełni zautomatyzowanego systemu inline; nadaje się do elastycznych wymagań produkcyjnych
Dane techniczne
| Nazwa parametru | Wartość specyfikacji |
| Wymiary całkowite | 970 mm × 1 725 mm × 1 845 mm |
| Wymiary zbiornika na wodę | 650 mm × 1 500 mm × 150 mm (możliwość dostosowania do wymagań klienta) |
| Efektywny obszar skanowania | ok. 400 mm × 320 mm (całkowita) |
| Maksymalna prędkość skanowania | 2 000 mm/s |
| Przyspieszenie osi X | 2 G (regulacja ręczna lub automatyczna) |
| Skok osi Z | 0 ～ 100 mm |
| Konfiguracja głowicy pomiarowej | 1 lub 2 głowice pomiarowe typu C-Scan, obsługuje głowice o częstotliwościach 5–500 MHz |
Standardowy system SAM nadaje się do bezzarownych badań i szczegółowej analizy półprzewodników, układów elektronicznych i pakietów elektronicznych. Typowymi zastosowaniami są badania rozwarstwienia modułów IGBT i SiC, badanie pakietów półprzewodnikowych oraz analiza wewnętrznych defektów i miejsc połączeń.
