Kontrola ultradźwiękowa

Bezpieczna próba ultradźwiękową półprzewodników i elementów technicznych

Badanie ultradźwiękowe umożliwia bezdestrukcyjną analizę elementów konstrukcyjnych i struktur materiałowych. Zastosowanie ultradźwięków o wysokiej częstotliwości pozwala na wykrywanie struktur wewnętrznych, granic materiałowych oraz defektów, które są niewidoczne z zewnątrz.

Nasze systemy kontroli ultradźwiękowego nadają się szczególnie do badania Wytwarzanie półprzewodników, układów elektronicznych, pakietów elektronicznych, podłoży ceramicznych oraz komponentów chłodzonych wodą.

W zależności od zadania badawczego można stosować różne głowice badawcze, częstotliwości i metody skanowania. Dzięki temu można lokalizować, analizować i zobrazować wewnętrzne defekty.

Typowe zastosowania

Polymery półprzewodnikowe i pakiety IC

Badanie obudów, warstw klejących i warstw materiałowych pod kątem defektów i wad

Moduły zasilania IGBT i SiC

Kontrola połączeń warstwowych, miejsc lutowania i obszarów pod wpływem wysokich temperatur

Substraty DBC i ceramiczne

Odkrywanie odstępów, pustek i nieprawidłowości strukturalnych

MLCC i elektroniczne komponenty

Badanie struktur wewnętrznych i połączeń materiałowych

MEMS i czujniki

bezpieczna analiza wrażliwych, wielowarstwowych struktur

Pakety z chipami flipowymi

Kontrola połączeń i powierzchni wewnątrz opakowania

Chłodzone cieczą płytki chłodnicze

Przegląd wewnętrznych struktur, niedociągnięć i możliwych błędów produkcyjnych

Odpowiednie maszyny i technologie

Badanie delaminacji modułów IGBT/SiC, badanie delaminacji obudów układów półprzewodnikowych, badanie wad spawalniczych płyt chłodzących wodą, pomiar grubości diamentu oraz wykrywanie wad wewnętrznych
Kontrola opakowań półprzewodników w przypadku zróżnicowanych małych i średnich serii, walidacja procesów badawczo-rozwojowych oraz wyrywkowe kontrole jakości produkcji